PCT蒸煮壽命試驗(yàn)箱

簡(jiǎn)要描述：PCT蒸煮壽命試驗(yàn)箱主要是測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?，或封裝體引腳間因污染造成短路等。 PCTZ主要是測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體。

所屬分類：HAST高壓加速壽命試驗(yàn)箱

更新時(shí)間：2025-12-12

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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詳情介紹

PCT蒸煮壽命試驗(yàn)箱主要是測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?，或封裝體引腳間因污染造成短路等。 PCTZ主要是測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體。

PCT蒸煮壽命試驗(yàn)箱

◆ 真空泵浦設(shè)計(jì)(鍋爐內(nèi)空氣抽出)提高壓力穩(wěn)定性、再現(xiàn)性；

◆ 超長(zhǎng)效實(shí)驗(yàn)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)間，長(zhǎng)時(shí)間實(shí)驗(yàn)機(jī)臺(tái)運(yùn)轉(zhuǎn)300小時(shí)；

◆ 干燥設(shè)計(jì)，試驗(yàn)終止采真空干燥設(shè)計(jì)確保測(cè)試區(qū)(待測(cè)品)的干燥；

◆ 水位保護(hù)，透過(guò)爐內(nèi)水位Sensor檢知保護(hù)；

◆ 耐壓設(shè)計(jì)，箱體耐壓力(140℃)2.65kg，符合水壓測(cè)試6k；

◆ 二段式壓力安全保護(hù)裝置，采兩段式結(jié)合控制器與機(jī)械式壓力保護(hù)裝置；

◆ 安全保護(hù)排壓鈕，警急安全裝置二段式自動(dòng)排壓鈕；

型號(hào)		SEST-S250	SEST-S350	SEST-S450	SEST-S550
工作室尺寸(cm)		? 25×35	? 30×45	? 40×55	? 50×60
性能	溫度范圍	105～132℃
	濕度范圍	RH飽和蒸汽（不可調(diào)）// 65%RH～RH非飽和蒸汽（可調(diào)）
	溫度均勻度	≤2℃
	濕度均勻度	≤±5%RH
	壓力范圍	1.2~2.89kg(含1atm)
	加壓時(shí)間	約45/Min
溫度控制器		中文彩色觸摸屏+ PLC控制器（控制軟件自行開發(fā)）
循環(huán)方式		強(qiáng)制對(duì)流循環(huán)方式
結(jié)構(gòu)		標(biāo)準(zhǔn)壓力容器
加濕系統(tǒng)		電熱管
加濕用水		蒸餾水或去離子水（自動(dòng)補(bǔ)水）
電源		AC380V 50Hz三相四線+接地線
材料	外殼材料	冷軋鋼板靜電噴塑(SETH標(biāo)準(zhǔn)色)
	內(nèi)壁材料	SUS316不銹鋼板
	保溫材料	玻璃纖維棉
電壓		220V～240V 50/60HZ單相