冷熱沖擊試驗(yàn)箱三箱式：分為?高溫箱、低溫箱、測(cè)試箱?三個(gè)獨(dú)立腔室?。測(cè)試時(shí)樣品靜止于測(cè)試箱內(nèi)，通過(guò)?冷熱風(fēng)路切換技術(shù)?將高溫或低溫快速導(dǎo)入測(cè)試區(qū)，實(shí)現(xiàn)溫度沖擊?。還包含?預(yù)熱室、預(yù)冷室?，進(jìn)一步提升溫度轉(zhuǎn)換效率?。模擬溫度變化環(huán)境，測(cè)試材料熱脹冷縮引起的物理或化學(xué)變化?。主要適用于?電子元件、汽車(chē)配件、軍工產(chǎn)品、高分子材料?等領(lǐng)域的可靠性測(cè)試，如芯片、PCB基板、復(fù)合材料等?。溫度切換?：采用斷熱結(jié)構(gòu)及蓄熱/冷技術(shù)，通過(guò)風(fēng)道閥門(mén)控制高溫或低溫氣流進(jìn)入測(cè)試區(qū)，轉(zhuǎn)換時(shí)間可縮短至?10秒內(nèi)?，復(fù)歸時(shí)間不超過(guò)?5分鐘??。

 該試驗(yàn)箱主要用來(lái)測(cè)試材料結(jié)構(gòu)，以及復(fù)合材料在瞬間經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，以在短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害，確保產(chǎn)品品質(zhì)。該系列的溫度沖擊標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)箱，也可以根據(jù)用戶需求定制更大容積的沖擊試驗(yàn)箱。該系列根據(jù)用戶場(chǎng)地和不同的試驗(yàn)需求分為水平結(jié)構(gòu)、垂直結(jié)構(gòu)以及三箱式，該系列具備提供客戶一箱多用功能。

  滿足標(biāo)準(zhǔn)：

GJB150.5-2009；GB/T2423.1-1989低溫試驗(yàn)方法；GB/T2423.2-1989高溫試驗(yàn)方法；GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)；GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)；GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)；GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗(yàn)。SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式；SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式；IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化；GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則；GB/T 2423.22-2002溫度變化；QC/T17-92汽車(chē)零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則；EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測(cè)試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評(píng)估；

冷熱沖擊試驗(yàn)箱三箱式技術(shù)規(guī)格：